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测试延迟

测试延迟 摘要:在电压调整测试中,测试?设备提供的负载电≒流需经一定的时间延迟才能达到预定值。文章介绍了一套开…

测试延迟

摘要:在电压调整测试中,测试?设备提供的负载电≒流需经一定的时间延迟才能达到预定值。文章介绍了一套开发于∠AS∶L-1000?测试平台、可自动?生成测试所需延时间的电㏕路,使测试既准确又经¥济,因此可推而广之。

关键词:负载电流 延迟时间 ASL-1000 ?测试

1 引言

在电压调整器负载特性的测试中,测试?设备一般采用电容组充、放电?,以输出具?有一定脉宽的大电流,并将其提供给“特?测器件”(DUT,Device Under Test)的输出?端作为?№负㏒载电流。由于电容效应,该电流无法在t=0时刻达到器件手册中的规定值,因而在电流源开启后,必须2经?一段延迟才能进行输出采样。延迟时间的取㏑值对测试影响较大,过小则负载电流尚未达规定值?,测试无效;过大将影响测试速度,造成经济损?失。

2 电路设计

ASL-1000是美国Credenc?e公司ml研制的IC测◎试设备,已在业界普遍应用。在其电压调整♀器的常规测试电?路中,接入两只内部继电器并外接一¥只1Ω/5W的电阻,同时辅助以相应﹤的测试软件,从而构?成了一套延¬迟·时间自动生成电路,如?图1所≥示。

3 设计实例

图1中,DVI-9-CH0提供DUT输入电压,PV3-2提供负载电流(?图中略)。DVI-9-CH1与DVI-?11-CH1分别采样测试。以集成稳压器CW7812为例,合上MUX-1-1和M?UX-2-1,当DUT负载电流为0.5A时,由∧于?电阻压?降,两测试端采样到的电压应相差0.5V,表1是经不同延迟时间后获得的测量值。

由表1数据可得负载电流与时间的关系示意图,如图2所示。显然,延迟时间应稍大于T1并小?于T≡2,才能使测试既准确又经⊙济?,且不同芯片负载特性的差异会使?∨T1、T2也随之改变。鉴于此,笔者设计了∮一套延迟?时间自动生@成方案:合上继电器,两?测试端同?时采样。设初始×延迟时间为?10∷μs,以100μs为步进,循环增加,直?到两测试‖端同次测值压?差不小于0.?5V且μ同一端?前后两次测值之差不大于1mV,方可认定此时负载电流已达到0.5A﹢。为避免进入℅死循环,程序设∣置了时间溢出(time£_ov?er),一旦延迟时间超出,程序mol退?出并报错,此时?需配合其它参数的测试,检查DU?T是否已失效。正常测试时,?要断开MUX-2-1?。

表?1 不同时延后的测值

时延(s)1050100300?500700DVI-9-CH≤1测值(V)12.083212.082112.?083212.081512.080812.0802DVI-11-CH1测值(V)12.083212.??083112.08112.06㈱1212.043512?.0069时延测试延迟(s)7507707908509501200DVI-9-CH1?测值(V)12.074312.06151?2.055912.043612.050612.0553DVI-9-CH1测值(V)11.677211.511911.396211.2635≯11.301211.5266时延?(s)1310014?0015∩001600170030000DVI-9-CH1测值(V)12.05≈6812.057212.057712.057812.05?7812.0832DVI-9-?CH1测值(V)11.548511.549?511.5=49711.549811.549∏912.0﹢83﹣2

以下为测试⌒源程序Vout_Highload?.cpp:

?v¤oid Vout_Highl∥oad(t∴est_?function fu∫nc)

{ //The two line?s below must be the first two in the function.

V≠out_*Hi?ghload_params *ours;

?ours=(Vout_Highload p√arams *)func.params;

floatVout,Vout1,Vout2,Vout3,del≮ta1,delta2,del=ta3;

f∈loat tim?e_delay=1?,ti′me_over=1000;

//initia∷lise d﹥elay time?=10μ℉s,time_over=1?0ms bo%ard_?hard£ware_init();

?

fixed_connect();

//initialise the DVI_9_CH1 and the DVI_1_CH1

dvi_9 -&gt℃;*set_meas_mode (mDVI?_CH?A%NNEL_1,DVI_MEASURE_VOLTA>GE);?

?

dvi_9-&gt?;est_voltage_rang∵e(DVI_CHANNEL_1,POSITIVE_V_OUT?,VOLT_50_RANGE,

FAST_VOLTAGE_MODE);

div_11 -?>set_meas_mode (DVI_CHANNEL_1,DVI_MEA?SUREm_VOLTAGE);

dvi_11-&?gt3;set_vol?t?age_range(DVI_CHANNEL_1,POSITIVE_V_OUT,VOLT_50_RAN?GE,FAST_VOL♂TA⊥G?E_MODE);

/-/connect the resistor to the output of the DUT

mux_20?->close_relay(MUX_1_1);

m‰ux_2⊕0-&g3t;c÷lose_relay(MUX_2_1);?

//se§㏄t in?itial current

pv?3_?2-?>set_voltage(0.0,PV3_RNG_100V?);

//set initial voltage

w℡″ait?.delay 10_μs(10);

pv3_connect(); //connect PV3 to c∽ircuit

do

{∟//Set PV3 voltage to 20V so that P?V3 step up current to max ?value

pv?3_2->set_v?oltage(20,PV3_RNGo_100V);

pv3_2->set_current(0.5,RANGE_10_A);

//set the current to 0.5?A

?pv※3_2->drive?-on();

wait.delay_10_μs(time_delay);

Vout=dvi_⊿9->measure (); //Mea?sure output with≦out the resistor

㎞V?o≌ut1=dvi_11->measure (); //Measure o?utput +with the resistor

pv3_2->drive≧_off(); ?

time_delay=time_delay+10;

delta1=Vout-Vo?ut1?;

d㎏elt?a?2=Vout-Vout2;

delta2?=?×Vout1-Vout?3;

Vout2=Vout;

Vout3=Vout1;

i/f(time_d?elay>time_over∞)

{°Vou¢t=999.999;

break;

}

} while((fabs(delta1)0.5)||(fabs(de∑lta2)>0∝.001)$||(fabs(de±lta3)>0.001));

b?oard_hardware_init();

}

4 结㎝束语

经﹣以上程序,在测得CW7812实际输出电压Vout 的同时㎎,可自动获得㎜测试所需的延迟时间(ti?medelay),且在后续其它参数的测试中?,延迟时间可延用此数值。如此,既满足了测试要求,又最大限度的〒节省了测试时间。本方?法适用于其它所有电压调整器的测试,并可推广到其它测试∪设备中。


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作者: mgnqyz

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